首批基因芯片出生缺陷基因诊断术落户山西
发布时间：2012-11-20
发布人：
中国科学报
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山西省人口计生委科学研究所日前公布，首批基因芯片出生缺陷基因诊断技术落户山西，该技术可在孕期诊断出400多种遗传学疾病。据悉，目前这项技术对出生缺陷的检出率可达28%，传统的检查方法只有5%~10%的检出率。
据了解，此技术由美国加州大学基因芯片临床诊断中心主任李新民推广至山西。此外，李新民还将推广第三代测序技术。按照国际生物科学界的分类，第一代测序技术完成人的全基因组测序花费了10年的时间（2000年前后的人类基因组计划），第二代测序技术只需要10天时间，而第三代测序技术只需要1天时间，甚至更短。